一、用途
于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、半导体陶瓷及分子材料之物理性变化,
测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害。
二、结构特点
设备分为高温室、低温室、测试室三部分..试验时待测物静止，应用冷热风路切换方式将冷、热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的。
采用触控式液晶(LCD)显示介面控制器，自动计测装置,操作简单，学习容易，中、英文显示系统操作状况，执行及设定程序曲线。
具96个试验规范设定,冲击时间999小时59分钟,循环周期1~999次可设定，可在设定时间自动启动、停止工作运行。
箱体左侧具50mm之测试孔1个，可供外加电源负载配线测试件。
可设定高温、 低温及冷热冲击三种不同条件之功能，并于执行冷热冲击条件时，可选择二槽式或三槽式及冷冲、热冲进行冲击之功能，具备高低温试验机的功能。
任一机件动作，有P.L.C锁定处理，采用P.I.D自动演算控制， 温度控制。
空气流通循环设计，使室内温度均匀度达到测试要求，可设定循环次数及除霜次数自动(手动) 除霜。
风口于回风口感知器检测控制，风门机构切换时间为10秒内完成，冷热冲击温度恢复时间为5分钟内完成。
发生异常状况时，荧幕上自动显示故障点趿原因和提供处理故障的方法,并于发现输入电力不稳定时,具有紧急停机装置。
冷冻系统采用二元低温回路系统设计，采用欧美压缩机,并采用制冷剂R404, R23。
