产品概述
X-3680型贵金属检测系统简介
X-3680是一种体现X射线荧光分析技的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用大功率X射线管为激发源，高分辨率全数字一体化X-123探测器系统，多种准直器与滤波片，再加上我公司专门开发的应用软件，充分发挥各部件的优异性能，保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方，正是它大有作为之处。
仪器检测能力强，分辨率高，适用于各行业对不同元素进行无损检测。在不同工作环境下分析范围从Al（13号元素）到U（92号元素）。无损分析迅速，无需制样，测试时间从几秒到几分钟可调。检测精度从PPM级别到千分之一级别。检测性能完全保证了符合中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会发布的《GB/T 18043-2013 首饰 贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法》中对X射线荧光光谱分析仪的要求：锰元素在5.89keV能量位置的峰，分辨率优于170eV
X-3680型贵金属检测系统组成
l X-3680贵金属检测仪一台
l 贵金属分析软件一套
l 密度分析软件一套
X-3680型贵金属检测系统硬件技术规格
1. 外型尺寸：530mm×480mm×330mm，配备高清数字液晶显示屏
2. 可测试样品大小：方便大型样品的检测，关仓测量：335mm×345mm×83mm，开仓测量：无限大
3. 仪器重量：37公斤
4. 工作环境温度：18—28℃
5. 工作环境相对湿度：≤70%
6. 含量范围：1ppm到99.99%;
7. 测量样品型态：固体，粉末，液体
8. 测量时间及次数:5秒到180秒可调，一键式快速测量3.5秒可出结果,测量次数任意可调,且在多次测量时可做平均值及标准偏差测量
9. 滤波系统：多种滤波片与多种准直器任意组合自动切换
10. 激发源：大功率X射线管，使用水制冷系统，对各种元素激发效率更高
11. 高压电源：稳定的长效高压电源最大功率50W
12. 探测器：美国Amptek公司高分辨率全数字一体化X-123探测器系统
13. 整机分辨率：锰元素在5.89keV能量位置的峰，分辨率为153eV-158eV完全符合中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会发布的《GB/T 18043-2013 首饰 贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法》中对X射线荧光光谱分析仪的要求：锰元素在5.89keV能量位置的峰，分辨率优于170eV。
14. 多道分析器：2048道
X-3680型贵金属检测系统进口探测器性能指标
1. 生产厂商：美国Amptek公司
2. 探测器类型：高分辨率全数字一体化X-123探测器系统
3. 探测面积：6mm2
4. 探测器窗口：铍窗，25μm厚
5. 硅活化区厚度：500μm
6. 探测器分辨率：对于55Fe，@5.9keV 对于12us的形成时间，半高宽为139eV
X-3680型贵金属检测系统高压电源规格
1. 电压和电流从零至满量程连续可调：最大50KV，1mA
2. 电压调整率,负载调整率：从空载到满载，电压变化为满量程0.01 %
3. 线性调整率：对于规定的输入电压范围，该数值为满量程0.01%
4. 电流调整率,负载调整率：从空载到满载，电流变化为满量程0.01%
5. 稳定性：经过半小时预热后，每8小时变化不超0.05%
6. 温度系数：温度变化一度，电压变化不超过0.01%
