CAMECA

自1929年成立以来，CAMECA不断为国际一流科研机构提供大型材料分析仪器，并为半导体行业的精准测量需求提供解决方案。CAMECA在多个尖端微量分析技术上开拓进取，精益求精，所提供的设备包括：二次离子质谱仪(SIMS)，三维原子探针断层分析术(APT)，电子探针微量分析(EPMA)，低能量电子激发X射线发射光谱(LEXES)CAMECA的总部邻近法国巴黎，分支机构遍及美国，德国，日本，韩国，中国，中国台湾，以及一个全球代理商网络，充分保证我们的支持服务惠及所